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I-V Curve 电特性量测原理是 ,利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式,快速计算阻值,藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short),另可产出曲线图文件。
提供DC组件及导体组件特性量测、电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、测I-V、量曲线及曲线绘图(IV Curve),其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异,脚数最多达最多1024 Pins 。 宜特支持度高,建置多种封装形式的Socket 快速便利,可快速比对出电性异常的脚位,并分类故障原因。 弹性量测方式,有多种量测模式可选择。(EX: Pin-all, Pin-pin)。 |
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