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[问答] 用于称重传感器测量或In的差分ADC 放大器?
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我的任务是设计一个电路来测量端子上压接压力的峰值冲击力。我在印刷机下使用称重传感器作为传感器。称重传感器输出满量程20mV(差分)(4000 kg力)。其影响非常快 - 整个卷曲在20-30毫秒左右就结束了!我提出的方法如下:将称重传感器的差分输出馈送到仪表放大器(gain〜200),依次将峰值检测器输入到AVR上的10位ADC。我试过这种方法,虽然它工作得很好,但它不够重复。系统中的噪音使得重复测量变得困难。请注意:我只在veroboard上尝试过,并没有在PCB上尝试过。

我打算很快这样做:
发生在我身上的第二种方法是,我可以使用内置增益为200x +的差分ADC,并直接获得这种结果。唯一的缺点是我没有读取峰值 - 但我总是可以做一些处理并找到峰值。第二种方法本质上更好吗?我也接受其他想法。目标只是测量峰值力,然后将其与MCU中的编程范围进行比较,以查看力是否过高或过低。

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2018-6-6 17:49:23   评论 邀请回答
1个回答
我们做称都是直接使用带放大的ADC。
2018-6-6 18:33:19 评论

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