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[讨论] 电源芯片失效分析流程

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发表于 2017-12-7 16:28:00   1676 查看 1 回复 显示全部楼层 倒序浏览
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整体失效分析的基本流程图。首先要确定失效模式,即怎样失效,然后进行电性分析(EFA,Electrical Failure Analysis),即通过电性分析完成缺陷位置的粗略定位。EFA包括样品选取、缺陷定位、电性能分析、纳米探针分析元器件性能等环节。
失效分析步骤1.png

杭州柘大飞秒检测技术有限公司立足浙江大学国家大学科技园光与电技术开放实验室,利用飞秒检测技术,通过观测分子、原子、电子、原子核等粒子飞秒级(一千万亿分之一秒)的振动、能级跃迁,开展分析工作。
光电实验室仪器图片.png

失效分析工作很大程度上依赖于仪器分析,仪器性能、可靠性尤为重要,当然定期的校验也是必不可少的,为了让更多优质的闲置仪器得到合理的利用,杭州柘大飞秒检测技术有限公司联合国内顶尖名校名企建立仪器共享平台,将百台优质分析仪器进行整合,为各界科研人员提供免预约仪器分析服务。
截至当前已经帮助5000+企业和个人开发产品和提供分析检测服务

我们提供优惠的仪器分析服务:扫描电镜:样品纯测试费用400元,一个工作日出具报告。

飞秒测试中心:何工:15355004280

联系地址:浙江省杭州市西湖区西溪路525号浙大科技园


工程师

发表于 2018-1-8 18:25:37  
拍明芯城电子元器件商城认为电源中大量使用的有源功率器件,比如功率部分的MOSFET、FRD、IGBT、BJT等,

控制上有PWM IC,驱动IC、光耦等,在这些器件的使用、调试过程、甚至批量产品中难免都会遇到失效问题

而有源功率半导体器件的失效概率是最高的,而且其价格也是相对较高的

对于每一次失效最好都能找到失效原因,并做出相应的改善预防措施
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