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作为射频测试电缆组件,其弯曲特性对于保证测试精度有着重要意义,因为电缆的弯曲会导致插入驻波比、损耗和相位的变化。 每种同轴电缆都有最小弯曲半径的要求,最小弯曲半径又分为静态和动态两种。比如,MIL-C-17标准中外径为5.4 mm的RG223/U电缆,其允许最小静态弯曲半径为30 mm,最小动态弯曲半径则为54 mm。在实际测试应用中,建议电缆的最小弯曲半径不要小于其直径的10倍。在测试电缆组件中,接头与电缆连接部位的工艺在很大程度上影响到整条电缆组件的VSWR和插入损耗的稳定性。从这个角度看,接头和电缆根部的防弯曲工艺是衡最和选择一条射频测试电缆组件的重要依据。常见的热缩套管并不能很好的起到防止弯曲的作用,较好的方法是采用硬性护套(见图a)或者不锈钢铠装护套外加热缩套转(见图b)。试验发现,采用硬性护套来紧固连接器和电缆的根部有很好的防止弯曲的效果,即使连接器磨损,电缆根部依然完好。 为防止电缆的过度弯曲采取的措施 在一些微波测试场合,要求测试电缆组件在弯曲时具有很小的相位变化量,即所谓的“稳相电缆”。一般来说,微孔介质电缆的相位稳定性会明显优于实心介质电缆,而多股内导体电缆的相位稳定性优于单股内导体。弯曲时的相位稳定性是衡量微波电缆性能导致重要指标,常见的外径约为5mm的微波电缆在弯曲直径为50 mm时,其相位变化在2°~5°之间。同轴电缆型号: http://www.gooxian.com/article/show-289.htm |
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