发帖

DFT工程师经典教程书籍第一部分

2012-1-11 14:28:06 10569

0 DFT是什么？ DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。 0
2012-1-11 14:28:06　　评论淘帖0 举报相关推荐 • 什么是LDO噪声？第一部分 1806 • 实现任意量级偏置电流网络的第一部分 920 • 贴片螺母螺丝规格机械尺寸图第一部分 3021 • 微波ECal视频演示：第一部分 769 • 数字下变频器的发展和更新（第一部分） 1525 • 开关模式电源电流检测—— 第一部分：基本知识 3096 • 京东卖的最热的：Labview宝典第一部分 3910 • 保护您的 IP 核——第一部分软 IP——前言 12267 • SAR ADC输入类型间的性能比较-第一部分 1171 • LabVIEW开发者必备技巧宝典第一部分 3998 14 个讨论

0 {:9:}{:9:}

2012-11-8 22:10:35 评论举报 1^# awen5038

0 DFT是什么？

2012-11-8 22:18:55 评论举报 2^# waterdragon

0 DFT是什么？ DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本是知道还是不知道啊。

2013-1-15 21:07:29 评论举报 3^# 夏先生

0 学习学习

2013-5-27 00:59:12 评论举报 4^# 刘昌明

0 xian zan yi ge, ran hou zai xue xi

2014-3-21 16:21:08 评论举报 5^# liangyantao21

0 学习学习，dft可测行设计

2014-4-11 20:05:59 评论举报 6^# a1032077316

0 。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。

2014-6-19 13:56:21 评论举报 7^# 孙豆豆

0 学习学习，，，

2014-8-30 15:34:46 评论举报 8^# 喝咖啡的布衣

0 看看看看，游泳没用

2014-10-11 07:59:45 评论举报 9^# waner4045

0 很好的书，希望能够学习的更多相关知识！

2015-6-4 16:09:56 评论举报 10^# 庞新洁

0 好书好书。学习学习。。。。。

2015-6-18 08:48:30 评论举报 11^# Gavin_Du

0 书在哪里呢？

2015-6-23 17:28:34 评论举报 12^# Gavin_Du

0 haodongxi

2016-7-26 22:34:06 评论举报 13^# luo09045202

0 哦？资料分享有嘞没

2017-3-27 11:37:38 评论举报 14^# h1654155808.7887

只有小组成员才能发言，加入小组>>

芯片测试与失效分析

699个成员聚集在这个小组

精选推荐

【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）

1923 浏览 0 评论
典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)

2766 浏览 0 评论
集成电路的设计与分工

2703 浏览 0 评论
芯片检测存在问题

3087 浏览 0 评论
关于USB3.0芯片VL812的问题~~~

9947 浏览 5 评论

最新话题

热门话题

大神就教：芯片焊线斜着打和竖着打有什么优缺点？

434浏览 1评论
THB与HAST如何选择？

3163浏览 0评论
老化验证和封装形式有关系吗？

2309浏览 0评论
正常***3的器件，不开封的有效期是多久？有这方面文件吗？

2266浏览 0评论
同样都HBM,芯片级（component level）和系统级（system level）的差别在哪里？

779浏览 0评论

创建小组步骤

创建小组创建自己的地盘
个性设置精心打造小组空间
邀请好友邀请好友加入我的小组
小组升级小组积分升级赢得社区推荐

创建属于自己的小组

快速回复 返回顶部 返回列表

关注微信公众号

电子发烧友网

电子发烧友论坛

社区合作: 刘勇; 联系电话：15994832713; 邮箱地址：liuyong@huaqiu.com

社区管理: elecfans短短; 微信：elecfans_666; 邮箱：users@hauqiu.com

返回芯片测试与失效分析

回复

关闭

站长推荐 /6

快速回复 返回顶部 返回列表

- 技术社区: HarmonyOS技术社区

RISC-V MCU技术社区

FPGA开发者技术社区

- OpenHarmony开源社区: OpenHarmony开源社区

- 嵌入式论坛: ARM技术论坛

STM32/STM8技术论坛

嵌入式技术论坛

单片机/MCU论坛

RISC-V技术论坛

瑞芯微Rockchip开发者社区

FPGA|CPLD|ASIC论坛

DSP论坛

- 电路图及DIY: 电路设计论坛

DIY及创意

电子元器件论坛

专家问答

- 电源技术论坛: 电源技术论坛

无线充电技术

- 综合技术与应用: 机器人论坛

USB论坛

电机控制

模拟技术

音视频技术

综合技术交流

上位机软件（C/Python/Java等）

- 无线通信论坛: WIFI技术

蓝牙技术

天线|RF射频|微波|雷达技术

- EDA设计论坛: PCB设计论坛

DigiPCBA论坛

Protel|AD|DXP论坛

PADS技术论坛

Allegro论坛

multisim论坛

proteus论坛|仿真论坛

KiCad EDA 中文论坛

DFM|可制造性设计论坛

- 测试测量论坛: LabVIEW论坛

Matlab论坛

测试测量技术

传感技术

- 招聘/交友/外包/交易/杂谈: 项目外包

供需及二手交易

工程师杂谈|交友

招聘|求职|工程师职场

- 官方社区: 发烧友官方/活动

华秋商城

华秋电路

time

recommend

hot

post

—
—
—

版
块
导
航